我司推出 LIV激光测试系统新品。
       LIV是一种广泛用于光电材料、芯片、器件性能评估的测试。LIV是精确测试半导体激光器LD、TOSA或BOSA激光器的光电性能参数与性能曲线的专用设备，根据光输入接口的选择，可测试各种不同波长的激光器性能参数。
       上位机可显示阈值电流、正向电压、一定条件下的发射光功率和背光电流、等效电阻等多种参数，自动绘制L-I、V-I、Im-I特性参数曲线；并由此计算得到 LD的其它特性参数，如：阈值电流对应的电压（Vth），指定功率点对应的电流（Iop），指定功率点对应的电压（Vop）；可保存测试的数据，同时根据需要对所有测试数据进行打印输出。